Kutatók

• Németh Péter (PhD)
• Fórizs István (PhD)

Intézeti mérnök

• Szabó Máté

A Földtani és Geokémiai Intézet pásztázó elektronmikroszkópos laboratóriuma 2021-ben alakult meg egy sikeres, ELKH által támogatott infrastruktúra-fejlesztési pályázatnak köszönhetően. A támogatás lehetővé tette, hogy a több mint 40 éves JEOL JCXA-733 elektron-mikroszonda helyére egy korszerű, téremissziós ágyúval felszerelt JEOL JSM-IT700HR mikroszkóp kerülhessen. Az új műszerrel az intézetben folyó ásványtani, geokémiai, földtani és archeometriai kutatások anyagvizsgálati lehetőségei jelentősen bővültek. A téremissziós sugárforrás lehetővé teszi, hogy a készülékkel akár 1 nanométeres térbeli felbontást is elérhessünk, vagyis a vizsgálandó anyag morfológiáját, textúráját részletesen megismerhessük. Az alacsony gyorsító feszültségű (1 keV) beállítás lehetőséget biztosít a felszíni struktúrák, nanoszemcsék beható vizsgálatára. A kis-vákuumú és alacsony gyorsító feszültségű üzemmódoknak köszönhetően szigetelő anyagok is vizsgálhatók komolyabb minta előkészítés (szenezés) nélkül. Ez utóbbi - az eredeti állapot megőrzése - különösen fontos a régészeti anyagoknál és a kulturális örökség tárgyainál.

Tevékenységi kör

A laboratóriumunk eszközei és mintaelőkészítő berendezései lehetőséget biztosítanak ásványok, kőzetek, kerámiák, fémek, egyéb szervetlen, valamint szerves minták korszerű anyagvizsgálatához. Morfológiai és kémiai összetételi információkat szolgáltatnak a vizsgálandó anyagokról. A laboratórium kiemelt profilja a geológiai minták vizsgálata, de jelentős tapasztalattal rendelkezik (ipari) kerámiák, fémek, üvegek, valamint a kulturális örökség egyéb anyagainak elemzésében is. Biológia és kapcsolódó tudományok területén többek között növények, rovarok, baktériumok és más mikroszkópos organizmusok szubmikronos jellemzését teszik lehetővé.

Készülékek és rendelkezésre álló módszerek

1. JEOL JSM-IT700HR pásztázó elektronmikroszkóp (SEM)

A mikroszkóp legnagyobb nagyításán 1,0 nanométeres térbeli felbontással készíthetők morfológiai képek. A töltődés kiküszöbölésére számos módszer elérhető: képalkotás alacsony gyorsító feszültségen, speciális pásztázás CF - Charge Free Scan mód, illetve a saját szivattyúval ellátott kisvákuum üzemmód. A robosztus mintaasztal egyedi tulajdonsága: a teljes munkatávon X, Y, Z döntés esetén eucentrikus tulajdonságú. A megfigyelési pont beállításai a mintaasztal mozgatása, döntése esetén is megmaradnak, a megfigyelési pont helyben marad a mozgatás során. A műszeren lévő JEOL energia diszperzív spektrométerrel a bórtól kémiai elemanalízis és elemtérképezés végezhető ~10 mikronos térbeli felbontással.

2. SMZ800N NIKON sztereomikroszkóp

A mikroszkóppal egyszerre vizsgálhatók minták 1.0x - 6.3x, illetve az Achro objektívnek köszönhetően 10x - 63x nagyítási tartományban. A képek rögzítése Truechrome 4K PRO digitális kamerával történik.

3. JEOL JFC-1200 Fine Coater és JEOL JEC-530 Auto Carbon Coater

Szigetelő minták a készülékekkel vezetővé tehetők.

4. Képfeldolgozás és minőségi elemzés

SEM vizsgálatok során képeket készítünk, amelyek a vizsgált anyagra jellemző morfológiai, topográfiai és kémiai összetételi információkat tartalmaznak. Képfeldolgozás folyamán további részleteket kapunk a mintáról. Többek között meghatározhatjuk a minta pontos összetételét, a szemcsék méretét és eloszlását, illetve közelebb kerülhetünk a mintát alkotó fázisok megismeréséhez.